- Главная
- Об отделе
- Структура
- Лаборатория акусто- и электрооптики
- Лаборатория гидродинамики дисперсных систем
- Лаборатория ионно-кластерных технологий
- Лаборатория конверсионных технологий
- Лаборатория молекулярной кинетики
- Лаборатория низкотемпературной плазмы
- Лаборатория синтеза функциональных материалов
- Лаборатория редкоземельных материалов
- Лаборатория теплообмена и топливной энергетики
- Центр коллективного пользования
- Персоналии
- Оборудование
- ЛЭМПУС - 1
- ЛЭМПУС - 2
- КЛИУС
- Плазмохимический стенд
- Гидродинамический стенд
- Хромато-масс-спектрометр
- ЦХРС
- Гелиевый течеискатель MSE - 2000A
- Эксимерный лазер Coherent COMPexPro 50
- Атомно-адсорбционный спектрометр
- Атомно-эмиссионный спектрометр
- ИК-Фурье спектрометр
- Планетарная мельница серии
- Рентген-флюоресцентный энергодисперсионный спектрометр
- Система точной ионной полировки (PIPS) GATAN Model 691
- Универсальный Газовый анализатор UGA-200
- Хроматограф газовый Agilent 7890A CG
- Электронный микроскоп ТМ-1000
- Микровизор μVizo®-101
- Атомно-силовой микроскоп
- Установка роста кристаллов методом управляемого теплового потока
- Установка роста кристаллов низкоградиентным методом
- Установка поликристаллического синтеза
- Микросайзер-201А
- Ocean Optics USB4000-XR1-ES
- SteREO Discovery.V20
- Изостатический пресс AIP6-30H
- Партнеры
- Элементы установок
- Публикации
- Гранты и проекты
- Контакты
- Выставки
- Участие в конференциях
Атомно-силовой микроскоп (AFM, СЗМ)
25/05/2014 KV
НаноЛаборатория ИНТЕГРА Прима (NT-MDT Ntegra Prima HD) — базовый представитель платформы. Соответствуя всем современным стандартам СЗМ, эта модель является отправным пунктом для интеграции СЗМ с другими методическими подходами.
Отличительные особенности конфигурации микроскопа, находящегося в Отделе прикладной физики:
- возможность снимать образцы неограниченного размера и массы без потери качества съёмки (с помощью метода сканирования зондом)
- возможность работать с очень хрупкими образцами, используя полуконтактный метод
- размер области сканирования до 120 мкм на 120 мкм при разрешении 4к на 4к точек
- возможность достижения атомарного разрешения с использованием малого прецизионного сканера 1 мкм на 1 мкм
- максимальная разница высот в области сканирования до 500 мкм
- наличие виброизоляционного шкафа с активным подавлением как низкочастотных так и высокочастотных шумов
- возможность проведения электро-статических и магнитных эффектов на поверхности образца
- наличие новейшей приставки Hybrid, позволяющей в каждой точке сканирования измерять силы сцепления зонда с поверхностью
- наличие датчиков перемещения позволяющих работать с включенными датчиками на полях сканирования до 5 нм
- оптический микроскоп с разрешением до 1 мкм, позволяющий с высокой точностью определять место сканирования на поверхности образца
»
- Войдите на сайт для отправки комментариев